Iijima Y., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Miyata S., Matsuda J., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M., Nakai A., Nakanishi T.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, PLD process, YBCO, TFA-MOD process, IBAD process, surface, nanoscaled roughness, fabrication
Goto T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Miyata S., Yajima A., Yoshinaka A., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M.
Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Miura M., Nakaoka K., Ichikawa H., H.Hirano, T.Ito, Y.Takahashi, H.Tobita, M.Yoshizumi
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, critical current density, fabrication
Goto T., Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Hirayama T., Sutoh Y., Yajima A., Miura M., Yoshizumi M., Yashima A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, precursors, composition, critical current, Jc/B curves, growth rate, fabrication, presentation, critical caracteristics
Yoshida Y., Awaji S., Watanabe K., Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Miura M., Ozaki T., Masakazu M., Funaki S.
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Miura M., Ozaki T.
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Miura M., Ozaki T.
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Miura M., Funaki S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, LTG process, dislocations, substrate single crystal, PLD process, Jc/B curves, fabrication, pinning centers, critical caracteristics
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Miura M., Ozaki T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, LTG process, seed layers, PLD process, nanodoping, resistance, magnetic field dependence, irreversibility fields, critical current density, angular dependence, Jc/B curves, pinning force, experimental results, critical caracteristics, fabrication, magnetic properties
Ichino Y., Takai Y., Mukaida M., Ichinose A., Miura M., Horii S.(tholy@mail.ecc.u-tokyo.ac.jp)
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Miura M.(m_miura@nuee.nagoya-u.ac.jp)
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Miura M.(m-miura@ees.nagoya-u.ac.jp), Takai Y.(takai@nuee.nagoya-u.ac.jp)
Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Yoshida Y.(yoshida@nuee.nagoya-u.ac.jp), Miura M.
Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Itoh M.(m-ito@ees.nagoya-u.ac.jp), Yoshida Y.(yoshida@nuee.nagoya-u.ac.jp), Miura M.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, substrate single crystal, PLD process, critical current density, fabrication, critical caracteristics, LTG process
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.